مقایسه آزمون های تراوش پتاسیم و هدایت الکتریکی

سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 51

فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_JFCR-5-1_011

تاریخ نمایه سازی: 8 آبان 1402

چکیده مقاله:

به منظور مقایسه آزمون های تراوش پتاسیم و هدایت الکتریکی برای ارزیابی بنیه بذر یونجه، بذر چهار رقم یونجه همدانی، یزدی، مائوپا و قره یونجه به مدت صفر، ۲، ۳ و ۴ روز در شرایط پیری زودرس با حرارت ۴۱ درجه سانتیگراد و رطوبت نسبی ۱۰۰% ، قرار گرفتند. سپس درصد جوانه زنی بذور و طول گیاهچه در آزمون استاندارد جوانه زنی اندازه گیری گردید. آنگاه مقدار هدایت الکتریکی و پتاسیم بعد از قرار دادن یک گرم از بذر هر یک از ارقام در تیمارهای مختلف پیری بعد از ۶۰، ۹۰ و ۱۲۰ دقیقه قرارگرفتن در ۵۰ میلی لیتر آب مقطر اندازه گیری و با نتایج حاصل از درصد جوانه زنی و طول گیاهچه مقایسه شد. نتایج آزمایش نشان داد که هر یک از تیمارهای پیری مورد استفاده در این آزمون می تواند برای تشخیص تفاوت ها در بنیه بذر ارقام مختلف یونجه به کار رود. همچنین آزمون تراوش پتاسیم به خوبی آزمون هدایت الکتریکی در زمان های آبگیری مورد آزمایش می تواند برای رتبه بندی بنیه بذر یونجه استفاده شود. براساس نتایج ۶۰ دقیقه آبگیری بذر برای انجام آزمون های فوق کفایت می کند. در صورتی که نتایج این آزمایش با نتایج آزمایشات مزرعه مطابقت داشته باشد دو آزمون هدایت الکتریکی و تراوش پتاسیم بعد از ۶۰ دقیقه خیساندن بذر، سریع ترین روش برای ارزیابی قوه نامیه و بنیه بذر یونجه خواهند بود.

نویسندگان

رضا صدرآبادی حقیقی

دانشگاه آزاد اسلامی، مشهد